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泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度儀的詳細資料：
泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度儀
Surtronic Duo II 手持式表面粗糙度測量儀被廣泛用于生產(chǎn)現(xiàn)場、工業(yè)廠房和檢測室。Surtronic Duo II 可用于評估地面的安全性，也可幫助地面材料制造商控制生產(chǎn)過程中的粗糙度。它可靠、耐用、快速、易于使用，并且只需很少的培訓。Surtronic Duo II 數(shù)字式表面粗糙度測量儀專門用于測量表面粗糙度，可與 HSE 滑倒評估軟件結(jié)合使用，以檢查地面的粗糙度。Surtronic 表面粗糙度測量儀的分辨率為 0.01 µm（0.4 µin），采用的粗糙度標準為 ISO 4287。
Surtronic Duo II 是一種高級便攜式表面粗糙度測量儀，只需按一鍵即可測量多個粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進行快速、輕松和精確的現(xiàn)場測量。泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度儀
Surtronic Duo II 的特點:
測量 - 觸覺測量按鈕，適用難測到的位置
分體式 - 通過滑軌和鎖定裝置，分為顯示/控制裝置和驅(qū)動裝置兩部分
金剛石測針和壓電傳感器 - 帶金剛石堅固耐磨的壓電傳感器測針，確保測量結(jié)果的可靠性。
藍牙技術 - 在驅(qū)動裝置和顯示/控制裝置之間進行快速可靠的通信
篤摯儀器(上海)有限公司為您提供泰勒霍普森Surtronic DUO粗糙度儀的詳細信息,包括儀器特點,應用情況技術參數(shù)等,如果您對泰勒霍普森Surtronic DUO粗糙度儀的信息有什么疑問,請與我司進行進一步聯(lián)系,獲取泰勒霍普森Surtronic DUO粗糙度儀的更多信息及*報價。
SURTRONIC DUO是英國泰勒公司 新型粗糙度儀,SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測 Ra , Rz 兩種參數(shù)。 DUO 具有紅外接口可在距離被測物 1 米處進行測量。
SURTRONIC DUO新型粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量,其設計可滿足不同的技術與工作環(huán)境要求。
SURTRONIC DUO新型粗糙度儀快速測量 在儀器底端接觸工件瞬間,即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可
