FISCHER COULOSCOPE CMS2測厚儀原理及方法的詳細(xì)資料：

FISCHER COULOSCOPE CMS2測厚儀原理及方法

FISCHER COULOSCOPE CMS2電解測厚儀過電解去除層來測量涂層厚度。特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。部署CSM2 STEP版本，用于單層標(biāo)準(zhǔn)的STEP測試測量，并檢測潛在的差異，例如在鎳多層質(zhì)量控制中。

HELMUT FISCHER集團(tuán)是一家受德國和瑞士基金會控股、專業(yè)生產(chǎn)和銷售涂鍍層測厚儀 、材料分析儀 、微硬度測試儀和材料測試儀 的性集團(tuán)公司。集團(tuán)總部位于德國和瑞士，在德國、美國和英國各建有一個工廠、并設(shè)立了一個研究院和一個用戶應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室，在*設(shè)有近50個分公司。

FISCHER COULOSCOPE CMS2測厚儀原理及方法

電位差測試相關(guān)知識介紹

　　電位差，也稱作電勢差或電壓，是衡量單位電荷在靜電場中由于電勢不同所產(chǎn)生的能量差的物理量。電位差的單位制為伏特(V，簡稱伏)，常用的單位還有毫伏(mV)、微伏(μV)、千伏(kV)等。此概念與水位高低所造成的“水壓”相似。需要指出的是，“電壓”一詞一般只用于電路當(dāng)中，“電勢差”和“電位差”則普遍應(yīng)用于一切電現(xiàn)象當(dāng)中。

電位差測試儀特點(diǎn)

    該多層鎳測厚儀器根據(jù)庫侖電量分析法進(jìn)行測量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標(biāo)準(zhǔn)Couloscope CMS2測厚儀

    通過電位差測試儀器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進(jìn)行測量。 可以用于測量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。

電位差測試方法

　　1、低壓電壓的測量

　　在低壓線路中，欲測某兩點(diǎn)間的電壓，只要把電壓表的兩端直接接到被測的兩點(diǎn)即可。這種方法叫并聯(lián)法。即電壓表是并聯(lián)在線路中。如下圖所示。

　　測量時應(yīng)注意的事項(xiàng)：

　　首先要估計(jì)被測電壓值的范圍，選好檔位，以免損壞儀表。一般以被測量處于zui大量程的2/3左右處較為準(zhǔn)確。測量直流電壓應(yīng)注意極性。

　　測量電壓是帶電進(jìn)行的，因此要注意安全。

　　2、高壓的測量

　　由于高壓對人的威脅很大，必須使用一種專門的設(shè)備來進(jìn)行測量。這種設(shè)備叫電壓互感器，或稱儀用互感器，俗稱PT。它的構(gòu)造、工作原理與變壓器一樣，但它的特點(diǎn)是：無論一次是多高電壓，如3kV、6kV、10kV、35kV，而二次電壓都是100V，這樣就給測量高電壓提供了方便。其測量時接線如圖所示。

　　經(jīng)過電壓互感器測電壓(即把高電壓變成低電壓),實(shí)際電壓值應(yīng)為讀數(shù)與電壓比的乘積。例如，某電壓表經(jīng)10000/100電壓互感器測得某電路(或負(fù)載)的電壓讀數(shù)為50V。那么，其實(shí)際電壓為50*100=5000V。

Couloscope CMS2 STEP的特征：

大尺寸高分辨率的彩色顯示器

簡單的操作和圖示的用戶指導(dǎo)

使用V18支架實(shí)現(xiàn)半自動化測量

電解速度和測量面積的簡單選擇（0.1-50μm/min）和（0.6-3.2mm∅）

電壓曲線圖形顯示

圖形和統(tǒng)計(jì)分析

多語言和計(jì)量單位可供選擇

篤摯儀器自創(chuàng)業(yè)以來，專注計(jì)量檢測和材料分析設(shè)備的研究、引進(jìn)與推廣，公司以深厚的工程技術(shù)背景和高效率的資源整合幫助企業(yè)在原始設(shè)計(jì)、開發(fā)周期、產(chǎn)品質(zhì)量、在役檢測等方便顯著提升效率和可靠性。

公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴，憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù)，始終努力為客戶解決日新月異的測量分析技術(shù)挑戰(zhàn)，精選測量方法和選擇產(chǎn)品，共同提供用戶的定制化系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。

我們的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)、大型國有企業(yè)、汽車行業(yè)等，用于評價材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能。